“EDSSP 三维实体数字化研究开发平台 ” ，是专门针对大学和研究机构开展三维数字化教学和研究的研究平台。 “EDSSP 三维实体数字化研究开发平台 ” 不但自身的软件和硬件能够完成国外最新的三维测量技术，而且系统开放，特别适合于大学和研究机构开展三维数字化教学和科研工作。

技术原理 　　

　　“ EDSSP 三维实体数字化研究开发平台”采用一种新的外差式多频相移三维光学测量技术，利用空间频接近的多个投影条纹莫尔特性的解相方法，能够非常简洁可靠地对条纹进行解包裹。分别投影多种不同空间频率的条纹于待测面上，摄像机摄取变形的条纹图，并利用相移法求取多种条纹的相位主值，从而恢复出条纹的真实相位来。此解包裹过程针对各点单独进行，所以不会出现误差传递的现象。该技术具有以下特点：

（ 1 ）对测量工件的明暗不受影响。该技术放弃了格雷码，采用多频相移技术，因此该技术就没有了格雷码带来的问题，对测量工件的明暗基本不受影响，不用喷显影剂就可测量大多数的工件。

（ 2 ）测量幅面可以更大，而测量时间较短。如果采用格雷码，测量幅面增大后，必须增加格雷码的编码位数，必须投射更多幅的格雷码，增大了测量时间。外差式多频相移技术更适于测量更大幅面的工件，精度更高。

（ 3 ）测量精度更高。采用格雷码加相移的三维测量技术，其测量精度主要由一幅光栅四次相移决定，格雷码的使用没有提高测量精度。而外差式多频相移三维光学测量技术，采用多个频率的光栅相移，比只投射 1 种频率的光栅精度更高，抗干扰能力强，而且能够测量剧烈变化的曲面。

（ 4 ）可以测量表面剧烈变化的工件。可以测量非连续、剧烈变化的表面。

EDSSP 三维实体数字化研究开发平台

ver2.20 系统功能

1. 提供两种三维测量技术。格雷码加相移技术和外差式多频相移三维光学测量技术，以便大学和研究机构进行对比研究。
2. 双相机测量。与单相机测量方式相比，测量精度更高，标定更方便，适应性更强。
3. 面扫描、测量数据密集。单幅扫描一次获得 400mm *300mm 幅面 130 万的点云，点云的点间距为 0.3mm ，测量精度为 0.03mm 。
4. 移动便携式测量。与传统的三坐标测量机、激光抄数机相比，突出特点为移动便携式操作，流动式测量，不需要固定的大型操作台，移动式测量，可以扫描测量几毫米到几十米的产品工件和物体。
5. 强大的自动拼接和重叠面自动删除功能。功能强大的多次扫描自动拼接功能，拼接精度更高，多幅拼接自动化完成，自动删除重叠面。可以工业数字近景三维摄影测量仪配合使用提高拼接精度。
6. 测量扫描速度快。单幅测量速度为 3~6 秒。
7. 激光指示器测距。方便操作测量，提高测量效率。
8. 提供多种标定板。标定板和十字架标定采用编码标志点和亚像素图像识别技术，标定精度更高更准确。标定板幅面从 200mm × 150mm 到 3 米 × 3 米 。
9. 系统采用工业化产品设计。所有硬件设备集成一起，一体化设计，性能稳定可靠。
10. 软件一体化集中控制所有硬件设备，包括激光指示器、工业相机、光栅投射器等。
11. 提供两个应用软件：三维测量软件（用于点云测量）、点云预处理软件（用于点云精确拼接、重叠面自动删除、点云计算、点云降噪等）。
12. 提供多种开发接口：系统硬件开发接口、测量软件调用接口。
13. 可以升级到大幅面测量，大幅面测量的单次测量幅面为 400mm *300mm 到 3000*2250mm ，采用十字架标定，相机为 130 万 ~660 万像素。
14. 长期升级和技术支持。保证系统的长期升级更新和技术支持。
15. 特点

1. 便携式测量操作：工件不需要移动，只需要随意移动测量设备就可测量工件的各个方向，特别适合大型工件或不适于移动的工件测量。
2. 快速密集测量点：非常适合复杂曲面的精确测量。
3. 测量扫描速度快。
4. 测量工件大小不受限制：多幅测量可以自动拼接，可以实现几十米的工件测量。
5. 精度较高，满足大多数工业测量的要求：一般测量精度为 0.03mm , 能够满足大多数工业测量的要求。
6. 多幅面自动拼接。

基本配置

应用领域